Все госты и снипы онлайн

Более 10000 документов в открытом доступе, абсолютно бесплатно

ГОСТ 25369-82 - Фотоэлементы измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров

Этот документ был распознан автоматически. В блоке справа Вы можете найти скан-копию. Мы работаем над ручным распознаванием документов, однако это титанический труд и на него уходит очень много времени. Если Вы хотите помочь нам и ускорить обработку документов, Вы всегда можете сделать это, пожертвовав нам небольшую сумму денег.

Файлы для печати:

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы ЙС Т А Н Д А Р ТС О Ю З АС С Р ФОТОЭЛЕМЕНТЫ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫМЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ V ГОСТ 25369-82Издание официальное Iа еи ЦГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАММ о с и н ,'"~кружево вологда
РАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР по стандартомИСПОЛНИТЕЛИБ. М. Степане» (руководитель темы), Л. И. Андрее»», М. М. Егеро». И. Н.Гусе»». С. А. Кайдвло», А. Ф. Котюк, В. И. Сачхо». 3. М. Семмчастно»»,А. П. Ромашке», В. А. ЯковлевВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартамЧлен Госстандарта Л. К. Исае»УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государстввенного комитета СССР по стандартам от 30 июля 1982 г. Н* 2990 Редактор В. П. Оеурцой Технический редактор А. Г. Каширин Корректор Н. Н, Жухозцееа Сдано в иаб. И С<>62 Пол'-, к печ. М.С9 82 1,0 п. л. 1,19 у ч .-ю а . л. Тир. 10000 Ц»»» 8 «ап. Ордена сЗ и ав Почет*» И здательство стандартов. 123857. Москва. Коаояресиеасх»8 гер .. 3. К алуж ская типография стандартов, уд. Московская. 2SS. З ах . 2118
УДК 621.181.083:006.254Группе П49Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы ЙС Т А Н Д А Р ТС О Ю З АС С РФОТОЭЛЕМЕНТЫ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ГОСТОсновные параметры.Методы измерений основных параметров 2 5 3 6 9 - 8 2 Measuring photocells Basic parameters, measuring methods of basic parametersПостаиовпсимем Государственного комитета СССР по стандартам от 10 июля1982 г. No 2990 срок введения установленс 01.07.81Несобяюдвние стандарта лрсспедуется по закону Настоящий стандарт распространяется на фотоэлементы изме­ рительные (далее фотоэлементы), предназначенные для исполь­ зования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений. Стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляе­ мые как комплектующие изделия для средств измерений.1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ 1.1. Все измерения проводятся при нормальных условиях н со­ ответствии с ГОСТ 24469—80. 1.2. В помещении, где проводятся измерения, не должно быть конвекционных потоков (в том числе активной вентиляции), ис­ точников пыли, посторонних тепловых возмущений, внешних маг­ нитных полей. 1.3. А п п а р а т у р а 1.3.1. Все параметры фотоэлементов измеряют в защитной ка­ море. Защитная камера должна обеспечивать защиту фотоэлемен­ тов от шнешних источников излучения, а также от воздействия магнитных и электрических полей. Защитная камера должна иметь электрическое соединение с общей точкой измерительной схемы испытательной установки. НеИздание официальноеПерепечатка аоспрещена © Издательство стандартов, 1982
Стр.2 ГОСТ Ш И — «2 допускается использовать материалы с высокой люминесценцией в качестве конструктивных элементов, находящихся вблизи фото­ катода. Предпочтительным материалом для этих целей является органическое стекло. Конструкция камеры должна исключить появление побочных отражений от стенок камеры и деталей, расположенных в камере. 1.3.2. Для ослабления потока оптического излучения использу­ ют измерительные ослабители. Для ослабителей излучения дол­ жны быть указаны следующие технические и метрологические ха­ рактеристики: коэффициент ослабления как функция длины вол­ ны, погрешность коэффициента ослабления как функция коэффи­ циента ослабления и длины волны; стабильность коэффнцнечпа ослабления во времени. 1.3.3. Источники питания В качестве источников питания фотоэлементов должны приме­ няться источники постоянного напряжения с нестабильностью вы­ ходного напряжения не более 0,1 % при изменении напряжения питающей сети на ± 1 0 % и нестабильностью в течение времени, необходимого для проведения измерений, не более 0,1 %. • Напряжение на выходе источника питания должно регулиро­ ваться в пределах, необходимых для измерения конкретного па­ раметра фотоэлемента. 1.3.4. Источники питания источника излучения В качестве источников питания источника излучения применя­ ют источники постоянного или переменного напряжения. Нестабильность выходного напряжения источников питания при изменении напряжения питающей сети на ± 1 0 % и в течение времени, необходимого для проведения измерения, должна быть не более — 0,2 %. 1.3.5. Измерительные приборы Предел допускаемой относительной погрешности приборов, контролирующих напряжение питания фотоэлементов, должен со­ ответствовать требуемой точности измерений, указанной в норма­ тивно-технической документации на фотоэлементы конкретных ти­ пов. 1.4. Т р е б о в а н и я б е з о п а с н о с т и 1.4.1. При подготовке к измерениям и при проведении измере­ ний параметров фотоэлементов следует руководствоваться общи­ ми правилами безопасности в соответствии с ГОСТ 12.2.003-—74 и ГОСТ 24469-80. 1.4.2. Защитная камера с фотоэлементом должпа быть обору­ дована блокировкой, исключающей возможность прикосновения оператора ктокопроводящим частям, а также сигнализацией о включении высокого напряжения. 1.4.3. Металлические корпуса измерительных приборов, в том числе переносных, необходимо заземлить.
ГОСТ 2*3*»—S3 Crp. 3 1.4.4. Включение и отключение оборудования должно произ­ водиться с помощью выключателей, размещенных на пультах н панелях управления. 1.4.5. Приборы переносного типа размещают на рабочем сто­ ле, полках или выдвижных столиках оборудования. Осциллографы и другие аналогичные приборы размещают на специальных тележках, рабочем столе, стеллажах. 1.5. П о д г о т о в к а к и з м е р е н и я м 1.5.1. Все средства измерений перед началом работы должны быть установлены в рабочее положение, заземлены, включены в сеть и прогреты в течение времени, указанного в эксплуатацион­ ной документации. 1.5.2. При измерении параметров фотоэлементов необходимо Облучать рабочую поверхность фотокатода в соответствии с тре­ бованиями нормативно-технической документации на фотоэлемен­ ты конкретных типов.2. ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ И ХАРАКТЕРИСТИКИ 2.1. Основные параметры и характеристики фотоэлементов, а также диапазоны значений параметров, на -которые распростра­ няются методы измерения, приведены в табл. 1. Та б л и ц а I Значения п а р а - м е т р о » , иа к о т о ­ р ы е р а с п р о с т р а ­ Н о м е р * пунк­ П а р а м е т р ы ( х а р а ^ г а р н м и и и ) ф о т о э л е м е н т а н я ю т И С Т О Д Ы , тов стандарт* п р и в е д е н н ы е а н а с т о я щ е й с т а н ­ д а р т е Область спектральной чувствительности, икм 0.22-1.3 3.1 Спектральная чувствительность Л/'Вт, на ф и к ­ сированных длинах волн: 0,265; 0,530; 0.694; 1 .0 6 мкм ю -*— ю - 2 3.2 Темновой тох, А, не более 10-* 3.3 Предел линейности характеристики преобразо­ вания в импульсном режиме, А 0.5-50 3.4 Длительность импульсной характеристики но уровню 0,5, с. нс более 10-* 3.5 Осиспноя относительная погрешность измере­ ния мощности. %, не более 20
Стр. 4 ГОСТ 23369—813. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ 3.1. Область спектральной чувствительности фотоэлемента оп­ ределяют по измерениямотносительной спектральной чувствитель­ ности фотокатода. При этом за границы области принимают длины волн, на которых относительная спектральная чувствительность составляет ДО 1 от максимального значения. 3.1.1. Принцип измерений3.1.1.1. Метод измерений основан на сравнении спектральной чувствительности исследуемого фотокатода со спектральной чув­ ствительностью контрольного приемника. 3.1.2. Аппаратура 3.1.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомога­ тельных устройств должна соответствовать приведенной д а черт. 1. 3.1.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств при­ веден в рекомендуемом приложении 1. 3.1.3. Подготовка и проведение измерений 3.1.3.1. Фотоэлемент в защитной камере ус­ танавливают у выходной щели монохроматора таким образом, чтобы поток излучения не вы­ ходил за пределы фотокатода. 3.1.3.2. З а выходной щелью монохромато­ ра в защитной камере устанавливают пооче­ редно контрольный приемник излучения и ис-" следуемый фотоэлемент и регистрируют пока­ зания соответствующего прибора, поочередно/ —бло к патами* и контрол* режима ис­ заменяя контрольный приемник фотоэлемен­ точника налучеаия; ?—ест очник падуче том либо на каждой длине волны, либо после нии:3—осветипрохождения всего спектрального диапазона. тельмвх система; 4 ~ спектральные ' при­ 3.1.3.3. В зависимости от вида кривой опре­ бор; в—кот-рольниЛ приемная излуче­ деляемой спектральной характеристики чув­ ния;6—исследуй* ствительности измерения проводят с интерва­ мыП фотоэлемент; 1— устройство д л я HSM«-e лом 5—20 нм в ультрафиолетовой области репке выходного «игкала исследуемого спектра и 10—30 нм в видимой и инфракрас­ фотоэлемента;4— ной областях спектра. устройство для наысраякх исходного 3.1.3.4. Полуширина спектрального интер­ сигнала коитрольио. го приемника) а— вала, выделяемого монохроматором, не дол­ блок питания фото­ жна превышать интервала, указанного в элемента. п. 3.1.3.3. Черт. 1 - 3.1.4. Обработка результатов 3.1.4.1. При использования в качестве контрольных неселектив­ ных приемников относительную спектральную характеристику чувствительности исследуемого фотокатода S 0т.(») определяют по формуле
ГОСТ 21)49—S3 Стр. 5 где л (>.)— выходной сигнал исследуемого фотокатода;п „(X) — выходной сигнал контрольного приемника. 3.1.4.2. При использовании в качестве контрольных селектив­ ных приемников с известной относительной спектральной харак­ теристикой чувствительности относительную спектральную харак­ теристику чувствительности исследуемого фотокатода определяют по формуле S o ,,,< x > ~ { ^ Т ‘ S к ] : [''s * 0TS(k>] m. x ' ( 2 ) где S*oin(x> — относительная спектральная характеристика чув­ ствительности контрольного приемника. 3.1.4.3. Основная относительная погрешность измерения спект­ ральной характеристики чувствительности фотоэлементов при принятой доверительной вероятности Р » 0 ,9 5 для видимой области спектра (380—780 нм) не должна превышать 12%, для ближней инфракрасной области (780—1200 нм) — 15%, для ближней уль­ трафиолетовой области (220—380 нм) — 25 %. 3.2. М е .т о д и з м е р е н и й с п е к т р а л ь н о й ч у в с т в и ­ т е л ь н о с т и н а ф и к с и р о в а н н ы х д л и н а х в о л н 3.2.1. Принцип измерений 3.2.1.1. Спектральную чувствительность на фиксированных дли­ нах волн определяют методом сравнения с аттестованным (по­ веренным) средством измерений максимальной мощности (далее СИ ММ). 3.2.2. Аппаратура 3.2.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогатель­ ных устройств должна соответствовать приведенной на черт. 2. 3.2.2 2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомога­ тельных .устройств приведен в ре­ комендуемом приложении 1. 3.2.3. Подготовка и проведениеизмерений 3.2.3.1. При подготовке к изме­ рениям напряжение питания фото­ / —источник импульсов оптиче­ элемента устанавливают в соответ­ ского клдучеяих ил основе ла>«- pj; г-аедитсльивн п.т*стнк*; 3, ствии с нормативно-технической( и м ер и тел ы ш с ослабители: документацией на фотоэлементы <—СИ ММ с ш а есп ш м и парам ет­ рами: 5 контрольное средство на­ конкретных типов. мерений; 7—камер* с исследуемым 3.2.3.2. Оптическую плотность фотоэлементом;8— источник «нтанкн фотоэлементе: 9— импульсный измерительных 'ослабителей под­вольтметр или осшюяограф бирают таким образом, чтобы обеЧерт. 2
Стр.6 ГОСТ Ш 6 9 —82 спечить работу исследуемого'■фотоэлемента на уровне не более (0,5 + 0,7) / лия (где / « „ — значение предела линейности фотото­ ка, указанное в нормативно-технической документации на фото­ элементы конкретных типов) и чтобы обеспечить работу конт­ рольного средства измерений в линейном режиме. 3.2.3.3. Коэффициент деления делительной пластины опреде­ ляют, подавая одиночный импульс излучения и снимая показании СИ ММ и контрольного средства измерений. Коэффициент деле­ ния К , рассчитывают по формуле где /С, — результат единичного наблюдения коэффициента деле- ' ния делительной пластины; jV, — показание контрольного средства измерений — макси­ мальное значение мощности излучения, отраженного от делительной пластины;Р °Ш 1х( — максимальное значение мощности излучения, прошед­ шего через делительную пластину. Проводят серию из п наблюдений Kt (л > 5 ). Среднее зна­ чение коэффициента деления делительной пластины К определя­ ют по формуле * = 4 - 2 * .п I- 1 и принимают его за результат измерений. 3 2.3.4, Средство измерений максимальной мощности с извест­ ными параметрами заменяют исследуемым фотоэлементом. Спектральную чувствительность определяют путем измерений фототока 11 d цепи или напряжения на выходе фотоэлементов и вычисляют по формулеА\1=*~К -jjj- , (5) где А ц — результат единичного наблюдения спектральной чувст­ вительности; ■I, — фототок (напряжение) в цепи (на выходе) фотоэлемен- _ та;К — коэффициент деления делительной пластины. 3.2.3.5. Проводят серию из д наблюдений А ц (д>5)._Среднее значение спектральной чувствительности фотоэлемента Ли опре­ деляют по формулеп ;-1 и принимают его за результат измерений.
ГОСТ 21)4*—12 Стр.7 3.2.4. Обработка результатов' 3.2.4.1. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основпая относительная погрешность измерения при принятой доверительной вероятности Р = 0,95 не должна превы­ шать 15 %•. ' .3.3. М е т о д и з м е р е н и й т е м н о в о г о т о к а 3.3.1. Принцип измерений3.3.1.1. При измерении темнового тока фотоэлемента измеря­ ют ток в цепи фотоэлемента полностью защищенного от действия оптического излучения. ' . 3.3.2. Аппаратура 3.3.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомога­ тельных устройств должна соответствовать схеме приведенной на черт. 3. 3.3.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомога­ тельных устройств приведен в рекомендуемом приложении !. 3.3.2.3. Металлические заземленные детали защитной камеры не должны касаться баллона фотоэлемента на участке анод— охранное кольцо. 3.3.2.4. При измерении темнового тока фотоэлемента без ох­ ранного кольца допускается включение мнкроампсрмстра как в цепь анода, так и в цепь катода фотоэлемента. При этом заземля­ ют либо положительный, либо отрицательный полюс источника питания. • 3.3.2.5. Ток утечки в измерительной цепи не должен превы­ шать 0,1 от ожидаемого темнового тока фотоэлемента. 3.3.3. Подготовка и проведение измерений 3.3.3.1. Фотоэлемент помещают в защитную • камеру и соединяют его электроды с источником питания и из­ мерительными приборами по схеме, приведенной на черт. 3. 3.3.3.2. На фотоэлемент подают на­ пряжение питания в соответствии с нормативно-технической документа­ цией на.фотоэлементы конкретных ти­ пов. >—охранное кольцо фотот.-с ■мента;t —исследуемый ф ^ о 3.3.3.3. Измеряют ток в цепи фото­ ьлемоиг. 3—источник питан*» элемента. Значение темнового тока фототдемемто:4— вольт метр:S— м ккрокм лерю трI T.t отсчитывают непосредственно но Черт. 3 шкале прибора. 3.3.3.4. Проводят серию из п наблюдений 1 Tj (л > 5 ). Среднее значение темнового тока /г определяют по формуле
Стр. 8 ГОСТ 2 JJM -8 1 (7) и принимают его за результат измерений. 3.3.4. Обработка результатов 3.3.4.1. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность при принятой доверительной вероятности Р —0,95 нс должна превышать I %. 3.4. М е т о д и з м е р е н и й с о о т в е т с т в и я х а р а к т е - р и с т и к и п р е о б р а з о в а н и я з а д а н н о м у п р е д е л у л и н е й н о с т и в и м п у л ь с н о м р е ж и м е 3.4.1. Принцип измерений 3.4.1.1. Метод заключается в определении соответствия между изменениями амплитуды импульса фототока в''цепи фотоэлемента и изменениями амплитуды импульса потока излучения. 3.4.1.2. Параметры рмпульсов оптического излучения, частота их следования, значение предела линейности в амперах должны быть указаны в нормативно технической документации на фото­ элементы конкретных типов. 3.4.2. Аппаратура3.4.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомога­ тельных устройств должна соответствовать указанной на черт. 4 или 5. 3.4.2.2. Вид схемы включения должен быть указан в норматив­ но-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. 3.4.2.3. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомо­ гательных устройств приведен в рекомендуемом приложении I. 3.4.3. Подготовка и проведение измерений 3.4.3.1. Устанавливают напряжение питания фотоэлемента в соответствии с нормативно-технической документацией на фото­ элементы конкретных типов. / —источник импульсов опта- 4K IW O излучения; мери­ тельный ослабитель;3—диаф ­ рагмы ; 4—исследуемы» фотоэлемент. « -р ези сто р развязки;6 -ивиопите^ьпы* ортвдз ед ле- или толы ш й конденсатор:t 7—в 7— ольт­ - метр; в—источник пнтамие фо тоэлемектв; S -р ези сто р н а ­ грузки; 10— импульсный водьт- Черт. 4
ГОСТ 25Н9—8J Стр. 9 3.4.3.2. Перед началом измерений фотоэлемент выдерживают включенным в течение времени и в условиях, указанных в норма­ тивно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. / —источник нипульсо* опти■ ««кого выучек**; г-тыери тсльяыЯ осмбагтель: J —дкаф раги ы ; <-исследуемыА -фото эхеиемт: 5—иипудьсмыЛ * о л ы метр иди осциллограф; »—ре 8*стор иатруаки;7 пакояи тельный конденсатор; в -к < тот ник пгтаииа фото-.леиеитл *—вольтметр • Черт. 5 3.4.3.3. С помощью измерительных ослабителей регулируют амплитуду импульса оптического излучения таким образом, чтобы значение фототока в цепи фотоэлемента соответствовало пределу линейности, указанному в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкретных типов. Фототок расчитывается по формуле ' < 8 > где [/ — напряжение на резисторе нагрузки, В;R — сопротивление нагрузки. Ом. 3.4.3.4. Ослабляют импульс оптического излучения от 2 до 10 раз и измеряют фототек по формуле (8). 3.4.4. Обработка результатов 3.4.4.1. Отклонение от линейности kj в % определяют по фор­ муле = Р / ' ■ -100, (9) где Р— кратность изменения амплитуды импульсов потока излу­ чения; Р ' — краткость изменения амплитуды импульсов фототока. 3.4.4.2. Проводят серию из п наблюдений X/(п > 5) опреде­ ляют среднее значение х по формуле ■ х = (Ю)п j-i н принимают его за результат измерений. 3.44-3. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4. При использовании указанной измерительной аппа­ ратуры и оборудования основная относительная погрешность из­ мерений при принятой доверительной вероятности Р = 0,95 не дол­ жна превышать 10 %.
Стр. «О ГОСТ 3JM9—«2 3.5. М е т о д и з м е р е н и й д л и т е л ь н о с т и и м п у л ь с ­ н о й х а р а к т е р и с т и к и по у р о в н ю 0.5 3.5.1. Принцип измерений3.5.1.1. Измерения производят путем обработки осциллограм­ мы сигнала на выходе исследуемого фотоэлемента. 3.5.2. Аппаратура 3.5.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомога­ тельных устройств должна соответствовать приведенной на черт. 6. источник а м с у х х о в оатячеекого т л у ч е а а а ; 2 —ос- ловитель соток» иадучекия; J —камер» с исследуемым фотоэлементом. 4— источим* питание ф отом ем аита; 5— стробоскопический осцил­ лограф Черт 6 3.5.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомо­ гательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1. 3.5.3. Подготовка и проведение измерений 3.5.3.1. Устанавливают напряжение питания фотоэлемента в соответствии с нормативно-технической документацией на фото­ элементы конкретных типов. 3.5.3.2. С помощью ослабителя регулируют амплитуду импуль­ са опткческого излучения таким образом, чтобы амплитуда им­ пульса фототока не превышала предела линейности, указанного в нормативно-технической документации на фотоэлементы конкрет­ ных типов. 3.5.3.3. Получают на экране осциллографа изображение выход­ ного сигнала фотоэлемента. 3.5.3.4. Измеряют длительность импульсной характеристики на уровне 0.5 от максимального значения выходного сигнала ис­ следуемого фотоэлемента jo.m . 3.5.3.5. Проводят серию из п наблюдений тссм (л > 5 ). Сред­ нее значение длительности импульсной характеристики.то,5 оп­ ределяют по формуле 4s & -4— 2)4si (11)п <~i и принимают его за результат измерений. 3.5.4. Обработка результатов 3.5.4.1. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 4. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудовании основная относительная погрешность измерений при принятой доверительной вероятности Р = 0.95 не должна превы­ шать 15 %.
ГОСТ 25М»—*2 Стр. 11ПРИЛОЖЕНИЕ IРекомендуемоеИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ АППАРАТУРА И ОБОРУДОВАНИЕ И*м«р>тгДИ1*> Uпи»р»t y ­ p e . ОбОруЮМНМ Типы к основные o i p i u t i p u Примечите Спектральный прибор Двойней монохроматор типа ДМР-4. Рассеянный свет в измеряемом диапазо­ не спектра не должен пре­ вышать 1%. Погрешность измерения 4% Контрольный попен­ ТеплОвые приемники из­ яй* излучения при изме­ лучения термоэлемента рении относительной типа РТН с отклонением от чувствительности фотонс селективности не более катода 2% в используемом спект­ ральном диапазоне или кремниевые фотодиоды ти­ па ФД-24К. имеющие сиб и.льп ум спектральную характеристику Защитная хамера П о Я. 2.3.1 настоящего стандарта Источник питания нс Но я. 2.3.3 настоящего следуемого фотоэлемен стандарта та Источники излучения Для работы в ультрафиолетоиой части спектра (110—340 им) применяют газоразрядные лампы с во­ дородным наполнением — водородная лампа типов ВЛФ-25, ВЛФ-40 или газо­ разрядные лампы с дейте­ риевым наполнением типов ДДС-30, ДДС-400 с увиолевымн, кварцевыми, сап­ фировыми нлк фтористо магниевыми окнами и зави­ симости от исследуемого спектрального диапазона Для работы в длинно-вонновом участке ультрафио­ летового спектра (300— —300 нм), а также и види­ мой и ближней ИК-облас- ти (360-1500 нм) следует
Стр. 12 ГОСТ и ш —ИПродолжения Измерите л -я л аппарату­ ре. оборудование Типи н ос*0»мы< вераметри Примечание применять ленточную лам­ пу накаливания типа СИ-'О—ЗООу, имеющую увиолевое, сапфировое или кварасвоо окно Источник импульоп В качестве источника оп­ При измерении дли­ оптического излучения тического излучении могут тельности импульсной использоваться: источник характеристики необхо излучения по ГОСТ ди но выполнение усло­ 8.198—76 и другие метроло­ вия: (3—5) т ||< т 4, гические аттестованные ла­ где Тм — длительность зеры. работающие в нмимпульса источника из­ пульсно-модулнроваином лучения; режиме с аналогичными па­ "о * — длительность им­ раметрами и с т* <10-* с • пульсной ' характерис­ Составляющая основ­ тики по уровню 0,5 ис­ ной погрешности, обуслов­ следуемого фотоэле­ ленная нестабильностью мента источников излучения, не должка превышать погреш­ ность остальных средств измерений за время измере­ ний параметров фотоэле­ ментов Блок питания и конт­ По п. 2.3 настоящего роля режима источника стандарта, а также реко­ излучения мендуется применять источ­ ники постоянного тока ти­ па СИП 30. МКТС-35. Для контроля режима источни­ ка излучения применять амперметр масса точности не ниже 0,2 для ламп нака­ ливания н класса точности нс ниже 0,5 для газоразряд­ ных ламп Измерительные при­ По п. 2.3 5 настоящего боры стандарта Вольтметр постоян­ Класс точности 1.0 # ного трка Диапазон 1—1000 В Михроампсрметр по­ Класс точности 1,0 стоянного тока Диапазон 0.1—100 мкА
ГОСТ НИ*— И Стр. 13Продо.<же>suv* Измерительна ■ аппарату­ ра. оборудование Тилы и основана параыатрн Примечание , Регистратор ОСЦИЛЛО- Типа 6ЛОР-04 графический Погрешность измерений по оси процесса 5% Погрешность измерений по оси времени 5% Импульсный вольт- Типа В-4-17 метр Для измерений ампли­ тудных значений электриче­ ских сигналов с погрешно­ стью не болое 4% Динамический диапа­ зон 10-*—100 В Длительность электриче­ ских импульсов Ю"м— - 1 0 -» с Стробоскоп ичесхий Типа С 7-12 осциллограф Полоса частот 5 ГГц, чувствительность 5 мВ/см. Погрешность амплитуд­ ных измерений не более 5%, погрешность времен­ ных измерений не болте 5% Средство измерения Динамический диапазон максимальной мощно­ 10»—10е Вт сти однократного им­ Рабочая длина волны в пульса оптического из­ диапазоне 0,53—1,06 мкм ' лучения, аттестован­ Основная погрешность не ное или прошедшее по­ более 15% верку (СИ ММ с извест­ ными параметрами) Контрольное средство К СИ ММ, используемо­ измерений му ‘в качестве контрольно­ го, предъявляется требова­ ние к стабильности спект­ ральной чувствительности зи время измерений, опре­ деляемой допустимой по­ грешностью измерений Диафрагма из асбоСи. приложение 2 цемента Делительная пласгиГОСТ 941*1—81 См. приложение 3 на из стекла БСЗ Толщина 5 мм
Стр. 14 ГОСТ 25369—82tПродолжение Ш м«ритг.тыма аппарату­ ра. оборудование Типы и основный параметры Пркч«чаиие Измерительные осла­ По п. 2.3.2 настоящего бителя стандарта. Составляющая основной погрешности, обу­ словленная’ нестабильнос­ тью коэффициента ослаб ления измерительных осла­ бителей, не должна превы- шать погрешность осталь­ ных средств измерений за время измерений парамет­ ров фотоэлементов Для г.эисрений могут применяться другие средства измерений с аналогич­ ными или лучшими характеристиками.ПРИЛОЖЕНИЕ 2СправочноеДиафрагма Материал — доска асбестоцементная по ГОСТ 4248—78 необработанная. Применяются диафрагмы с размером d. равным 2, 4, 7, 10 и 12 мм.
ГОСТ 25369—62 Стр. 15ПРИЛОЖЕНИЕ, 3Справочное Делительная iu b c ih ik i ■s / 3 >9< $ sО 3 0 .0 , S i Материал — стекло БС 3 по ГОСТ 9411—«I.ПРИЛОЖЕНИЕ 4СправочноеРАСЧЕТПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВФОТОЭЛЕМЕНТОВ I. Основную относительную погрешность измерений параметров фотоэлемен­ тов Д а % определяют согласно ГОСТ 8.207—76 по формулеА - * / s ’ + i | ,в?.о» где К — коэффициент, зависящий от соотношения случайной и неиск.чаочеиной систематической погрешности и принятой доверительной вероятности, определяется по ГОСТ 8.207—76; 5 — оценка относительного среднего квадратического отклонения результа­ та измерений, %; г 0 / — граница /-й состевляющей («-исключенной систематической погрешив- 7|, 1.1. Для основной относительной погрешности измерений спектральной чув­ ствительности на фиксированных длинах волн составляющие основной относи­ тельном погрешности определяют по формуламS ' ~ S j, ; (2) 01 = е?+ е| + в2, + е-. (3) ,яс ^ * 1 относительное среднее квадратическое отклонение результата измере­ ний среднего значения спектральной чувствительности. оценнвадарта по^фор^'с* НЗМ<реиий' пол>',|е«"“ « « п. 32 настоящего стаи--
Стр. 16 ГОСТ Ш И - t t > l / § , (^ 441)1-100, (4) ^ Г "С"“ Г " где . ‘ ft — число измерений; 0 ,. 0*. 0 4. 0«, — основные относительные погрешности средств измерений — контрольного 4. с известными параметрами 5, регистриру­ ющего устройства 9 на выходе исследуемого фотоэлемен­ та и источника импульсов оптического излучения I, соот­ ветственно. черт. 2. . 1.2. Основная относительная погрешность измерения темпового тока. Осносмтсльное среднее квадратическое отклонение 5 результата измерений тем ново; о тока оценивают по результатам измерений, полученный, з п. 33 настоящего стан­ дарта по формуле (4). заменив в ней на I т , а А ц на !T i. В качестве иексключенной систематической погрешности результата измере­ ний 0 учитывают основную относительную погрешность средства измерений о. . черт. 3. 1.3. Основная относительная погрешность измерений предела линейности характеристики преобразования в импульсном режиме. Относительное среднее квадратическое отклонение S результата измерений предела линейности в импульсном режиме оценивают по результатам измерений, полученным п п. 3.4 настоящего стандарта по формуле (4), заменив в ней па *. а А :>1 на ч . Н(.исключенную систематическую погрешность 0 определяют по формуле в’=.е> + в’ + е|, • (5) где 0 J . 0 j, 0 з — основная относительная погрешность источника импульсов оптического излучения. измерительного ослабителя и средств измерений 10 (черт. 4) или 9 (черт. 5) соответст­ венно. 1.4. Основная относительная погрешность измерений длительности импульс­ ной характеристики по уровню 0.5. Относительное среднее квадратическое отклонение 5 результата измерений длительности импульсной характеристики по уровню 0.5 вычисляют по результа­ там, полученным в п 3.5 настоящего стандарта по формуле (4), замени» » ней Лх на t0i8, а А 1 ,н з ч0А1. Ненсхлюченную систематическую погрешность 0 определяют по формуле в*- в? + в», (6) где 0 1 и 0»— основная относительная погрешность источника импульсов оптячесхого излучения 1 и средства измерений 5 (черт. 6).ГОСТ 25369-82

Похожие документы